XDP-4型检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，硅片的质量检测而设计开发制造的，主体为：正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器。可连接计算机直接观察，打印报告，照片或连接数码相机直接拍照，135照相机还可以直接进行图像记录。并建立技术，检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。
　　检测显微镜具有特别的特点：1)放大倍数：40倍至800倍；2)超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等.

一、调焦系统
　　①载物台：
　　　A)面积350mm×255mm
　　　B)X、Y轴方向移动范围：200mm×200mm
　　　C)操纵系统：快速移动，微动移动
　　②粗动调焦范围：25mm
　　③微动调焦范围：25mm
　　④微动调焦格值：0.002mm
二、物镜转换器：
　　四孔，同时可按装4个物镜，可选择旋转使用
三、物镜
    放大倍数 孔 径    工作距离
    PC 4×   0.10NA   17.912mm
    PC 10×  0.25NA   6.544mm
    PC 20×  0.40NA   1.05mm
    PC 40×  0.65NA   0.736mm
四、目镜(大视场)
　　P20×，P12.5×，P10×，PF10×(分划目镜)，0.5×(CCD目镜)
五、电源
　　输入：220V/50Hz，输出：反射光源，钨卤素灯6V、15W
六、彩色摄像机
　　制式：PAL制，扫描面积：1/3英寸，画面最低照度：1LUX/F1.2，清晰度：480TVL
七、14"彩色监视器(450线)