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产品介绍：
用于测量以下覆层(覆层包括涂层、镀层等)：
1、钢铁基体上的非磁性覆层
2、有色金属上的绝缘覆层
3、绝缘基体上的有色金属覆层
１）.耐磨的两用型测头
２）.很高的精度与重复性
３）.读值可存储和处理

产品特点：
可选用测头的技术数据：
１.电源：1×9V碱性电池或者外接电源；
２.电池寿命：10,000次测量
３.适用标准:DIN50891,50982,50984 ISO 2173,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO
４.工作环境温度－主机：0～50℃，
５.测头：-10℃～70℃，暂时工作可达120℃
６.主机尺寸/重量：150mm×82mm×35mm/270g
1)实验室条件下用随货提供的标准片；
*另有耐高温测头

一．两用测头：
测头：FN1.6
量程：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：F0.5mm/ N50µm
尺寸(mm)：Φ15×62

二．两用测头：
测头：FN1.6P
量程：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：只限平直表面　
最小测量面积：Φ30mm
最小基体厚度：F0.5mm/ N50µm
尺寸(mm)：Φ21×89

三．两用测头：
测头：FN2(也适合铜上铬)
量程：0～2000µm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度 ：F0.5mm/ N50µm
尺寸(mm)：Φ15×62

四．磁感应法：
测头：F06
量程：0～600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+0.7µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1mm/ 5mm
最小测量面积：Φ3mm
最小基体厚度：0.2mm
尺寸(mm) ：Φ15×62

五．磁感应法：
测头：F1.6
量程：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm　
最小基体厚度：0.5mm
尺寸(mm)：Φ15×62

六．磁感应法：
测头：F3*
量程：0～3000µm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：0.5mm
尺寸(mm)：Φ15×62

七．磁感应法：
测头：F1.6/90(管内测头)
量程 ：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：平直/ 6mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：0.5mm　
尺寸(mm)：Φ8×8×170

八．磁感应法：
测头：F2/90(管内测头)
量程：0～2000µm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：平直/ 6mm
最小测量面积：Φ5mm
尺寸(mm)：Φ8×8×170

九．磁感应法：
测头：F10
量程：0～10mm
低端分辨率：5mm
容差1)：+/-(1%+10µm)
最小曲率半径(凸/凹)：5mm/ 16mm
最小测量面积：Φ20mm
最小基体厚度：1mm
尺寸(mm)：Φ25×46

十．磁感应法：
测头：F20
量程：0～20mm
低端分辨率：10mm
容差1)：+/-(1%+10µm)
最小曲率半径(凸/凹)：10mm/ 30mm
最小测量面积：Φ40mm
最小基体厚度：2mm
尺寸(mm ：Φ40×65

十一．磁感应法：
测头F50
量程：0～50mm
低端分辨率：10mm
容差1)：+/-(3%+50µm)
最小曲率半径(凸/凹)：50mm/ 200mm
最小测量面积：Φ300mm
最小基体厚度：2mm
尺寸(mm ：Φ45×70

十二．电涡流法：
测头：N02
量程：0～200µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+0.5µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1mm/ 10mm
最小测量面积：Φ2mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm：Φ16×70

十三：电涡流法：
测N.08Cr (适合铜上铬）
　量程：0～80µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：2.5mm
最小测量面积：Φ2mm
最小基体厚度：100µm
尺寸(mm：Φ15×62

十四．电涡流法：
头测：N1.6
量程：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ2mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm ：Φ15×62

十五．电涡流法：
测头：N2
量程：0～2000µm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：1.5mm/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm：Φ15×62

十六．电涡流法：
头测：N1.6/90(管内测头)
量程：0～1600µm
低端分辨率：0.1µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：平直/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm：Φ13×13×170

十七．电涡流法：
头测：N2/90(管内测头)
量程：0～2000µm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：平直/ 10mm
最小测量面积：Φ5mm
最小基体厚度：50µm　
尺寸(mm：Φ13×13×170

十八．电涡流法：
头测：N10
量程：0～10mm
低端分辨率：10µm
容差1)：+/-(1%+25µm)
最小曲率半径(凸/凹)：25mm/ 100mm
最小测量面积：Φ50mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm：Φ60×50

十九．电涡流法：
头测：N20
量程：0～20mm
低端分辨率：10µm
容差1)：+/-(1%+50µm)
最小曲率半径(凸/凹)：25mm/ 100mm
最小测量面积：Φ70mm
最小基体厚度：50µm　
尺寸(mm：Φ65×75

二十．电涡流法：
头测：N100
量程：0～100mm
低端分辨率：100µm
容差1)：+/-(1%+0.3mm)
最小曲率半径(凸/凹)：100mm/ 平直
最小测量面积：Φ200mm
最小基体厚度：50µm
尺寸(mm：Φ126×155

二十一．电涡流法：
头测：CN02(用于绝缘基体上的有色金属覆层)
量程：10～200mm
低端分辨率：0.2µm
容差1)：+/-(1%+1µm)
最小曲率半径(凸/凹)：只限平直表面　
最小测量面积：Φ7mm
最小基体厚度：无限制
尺寸(mm：Φ17×80